Глобальный поиск Единое окно поиска по РИД и запросам

Программа для определения морфологических характеристик слоистых объектов с помощью цифрового анализа изображений растровой электронной микроскопии

Наименование РИД Программа для определения морфологических характеристик слоистых объектов с помощью цифрового анализа изображений растровой электронной микроскопии
Реферат Программа сегментации слоистых объектов на изображениях, полученных методом растровой электронной микроскопии и расчета морфологических характеристик слоев: толщина, пористость, доля фаз, функции распределения толщин слоёв, средние значения, стандартные отклонения.
Возможные направления использования Программа предназначена для оценки качества слоистых объектов, предназначенных для различных областей науки и промышленности.
Количество опытных образцов 1
Количество просмотров 2
Наличие дополнительных файлов False
Использование РИД правообладателем False
Внешнее использование РИД False
НИОКТР (JSON) {}
ИКСИ (JSON) []
ИКСПО (JSON) []
ОЭСР (JSON) []
Дата первого статуса 2026-01-16T16:12:03.200184+00:00
Предполагаемый тип результата Программа для ЭВМ
Ожидаемая роль Исполнитель
Заказчик ФОНД ПОДДЕРЖКИ ПРОЕКТОВ НАЦИОНАЛЬНОЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ ИНИЦИАТИВЫ
Руководитель работы Берлин Александр Александрович
Руководитель организации Скобелев Николай Михайлович
Регистрационный номер НИОКТР 122081600017-0
Последний статус Подтверждена, 626012800078-4, 2026-01-28 07:41:33 UTC
ОКПД Услуги (работы), связанные с научными исследованиями и экспериментальными разработками в области технических наук и в области технологий, прочие, не включенные в другие группировки, кроме биотехнологии
Ключевые слова доля фаз; пористость; методом растровой электронной микроскопии
Исполнители ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ Н.Э. БАУМАНА (НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)"
Авторы Берлин Александр Александрович
Коды тематических рубрик 47.09.48 - Наноматериалы для электроники; 50.51.15 - Математические модели и языки проектирования
OESR Материаловедение; Нано-материалы [производство и свойства]; Электротехника и электроника
Приоритеты научно-технического развития Отсутствует