Глобальный поиск Единое окно поиска по РИД и запросам

Программа для вычисления распределения интенсивности светового поля за одномерной шаблонной структурой, состоящей из чередующихся щелей и частично прозрачных фазосдвигающих полос

Наименование РИД Программа для вычисления распределения интенсивности светового поля за одномерной шаблонной структурой, состоящей из чередующихся щелей и частично прозрачных фазосдвигающих полос
Реферат Программа предназначена для расчёта распределения интенсивности светового поля за одномерной структурой фотошаблона, состоящей из чередующихся щелей и частично прозрачных фазосдвигающих полос, с использованием методов Фурье-оптики. Программа выполняет функции расчёта коэффициентов пропускания и фазовых сдвигов для элементов структуры на основе заданных пользователем оптических (коэффициенты преломления и экстинкции) и геометрических (ширины полос и щелей) параметров, а также вычисления итоговой дифракционной картины в приближении Френеля с использованием быстрого преобразования Фурье для различных расстояний от структуры до экрана и с учётом угла падения исходной световой волны.
Возможные направления использования Микроэлектроника Нанолитография Фотоника Дифракционная оптика Оптическое приборостроение Метрология наноструктур Лазерные технологии
Количество опытных образцов 0
Количество просмотров 5
Наличие дополнительных файлов False
Использование РИД правообладателем False
Внешнее использование РИД False
НИОКТР (JSON) {}
ИКСИ (JSON) []
ИКСПО (JSON) []
ОЭСР (JSON) []
Дата первого статуса 2026-01-13T10:56:35.224438+00:00
Предполагаемый тип результата Программа для ЭВМ
Ожидаемая роль Исполнитель
Заказчик МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Руководитель работы Козлов Владимир Алексеевич
Руководитель организации Дронов Алексей Алексеевич
Регистрационный номер НИОКТР 125102912356-1
Последний статус Подтверждена, 626012600120-2, 2026-01-26 11:01:23 UTC
ОКПД Услуги, связанные с научными исследованиями и экспериментальными разработками в области нанотехнологий
Ключевые слова тонкие пленки; нанотехнологии; интерференция; литография; фотошаблоны
Исполнители ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ "МОСКОВСКИЙ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ"
Авторы Бутманов Данил Денисович; Громов Дмитрий Геннадьевич; Лавров Игорь Викторович; Горелков Олег Павлович; Аникин Андрей Владимирович
Коды тематических рубрик 29.31.15 - Излучение и волновая оптика; 47.13.07 - Технология и оборудование для производства приборов и устройств наноэлектроники; 29.33.39 - Оптические явления в волноводах и тонких пленках. Интегральные оптические схемы
OESR Оптика (включая лазерную оптику и квантовую оптику)
Приоритеты научно-технического развития а) переход к передовым технологиям проектирования и создания высокотехнологичной продукции, основанным на применении интеллектуальных производственных решений, роботизированных и высокопроизводительных вычислительных систем, новых материалов и химических соединений, результатов обработки больших объемов данных, технологий машинного обучения и искусственного интеллекта;