Глобальный поиск Единое окно поиска по РИД и запросам

Анализ и постановка технологии БиКДМОП с топологическими нормами 0.5-0.8 мкм с тремя и более слоями металлизации, шифр: «Технология-А»

Название НИОКТР Анализ и постановка технологии БиКДМОП с топологическими нормами 0.5-0.8 мкм с тремя и более слоями металлизации, шифр: «Технология-А»
Аннотация Цель Анализ и постановка технологии БиКДМОП с проектными (топологическими) нормами 0.5-0.8 мкм с тремя и более слоями металлизации. Объекты исследования: полупроводниковые пластины; кристаллы с различными тестовыми и рабочими структурами, изготовленными на установках, применяющихся в БиКДМОП процессах, а также иные материалы, применяемые в производстве кристаллов. Образцы разрабатываются в рамках выполнения комплексного проекта «Разработка и организация серийного производства серий ЭКБ, включая развитие тренч-технологий, с целью обеспечения технологического суверенитета» Задачи Проведение анализа образцов: Исследование состава защитных покрытий, межуровневых диэлектриков и других слоев; Исследование состава загрязнений, полимерных образований после различных технологических операций Исследование профилей травления контактных окон, межуровневых контактов, шин затворов, металлизации и др; Определение критических линейных размеров, уходов размера относительно исходной маски после операций фотолитографии; Исследование рельефа и профиля слоев на ступеньках в кристаллах после операций осаждения, травления, ХМП и пр. Проведение реверс-инжиниринга технологических решений в аналогах ИС, разработанных по технологиям БиКМОП и БиКДМОП. Сбор и обработка статистических данных; Выработка рекомендаций по постановке технологии. Результаты Результаты анализа полупроводниковых пластин, кристаллов с различными тестовыми и рабочими структурами, изготовленных на различных установках (данные осоставе материалов, их профилей, толщин и свойств и т.д.); Результаты анализа обработки статистических данных, включающие выводы о рекомендациях по постановке и корректировке технологии БиКДМОП с топонормами 0.5-0.8 мкм с тремя и более слоями металлизации.
Доступ к ОКОГУ исполнителя False
Количество связанных РИД 0
Количество завершенных ИКРБС 0
Сумма бюджета 51000.0
Дата начала 2024-12-23
Дата окончания 2028-12-25
Номер контракта 32-3
Дата контракта 2024-12-23
Количество отчетов 5
УДК 531.7
Количество просмотров 3
Руководитель работы Малаханов Алексей Алексеевич
Руководитель организации Федонин Олег Николаевич
Исполнитель ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "БРЯНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ"
Заказчик АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "ГРУППА КРЕМНИЙ ЭЛ"
Федеральная программа Отсутствует
Госпрограмма
Основание НИОКТР Договор со сторонней организацией
Последний статус 2025-12-16 13:37:35 UTC, 2025-12-16 13:37:35 UTC
ОКПД Услуги, связанные с производством электронных интегральных схем
Отраслевой сегмент
Минздрав
Межгосударственная целевая программа
Ключевые слова технология; образец; энергодисперсионный анализ; оптическая микроскопия; сканирующая микроскопия
Соисполнители
Типы НИОКТР Разработка и лабораторная проверка ключевых элементов технологии
Приоритетные направления
Критические технологии
Рубрикатор 90.27.37 - Оптические и оптико-физические измерения; 90.27.27 - Измерения геометрических величин; 90.27.31 - Измерения состава и физико-химических свойств веществ
OECD
OESR Другая техника и технологии; Электротехника и электроника
Приоритеты научно-технического развития а) переход к передовым технологиям проектирования и создания высокотехнологичной продукции, основанным на применении интеллектуальных производственных решений, роботизированных и высокопроизводительных вычислительных систем, новых материалов и химических соединений, результатов обработки больших объемов данных, технологий машинного обучения и искусственного интеллекта;
Регистрационные номера